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納米薄膜檢測

健明迪檢測提供的納米薄膜檢測,檢測項(xiàng)目:厚度檢測,缺陷檢測,指標(biāo)檢測等,檢測標(biāo)準(zhǔn)參考 GB/T30447-2013納米薄膜接觸角測量方法 GB/T338,具有CMA,CNAS認(rèn)證資質(zhì)。
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檢測標(biāo)準(zhǔn)參考

GB/T 30447-2013納米薄膜接觸角測量方法

GB/T 33826-2017玻璃襯底上納米薄膜厚度測量 觸針式輪廓儀法

GB/T 36969-2018納米技術(shù) 原子力顯微術(shù)測定納米薄膜厚度的方法

檢測樣品:納米薄膜

檢測項(xiàng)目:厚度檢測,缺陷檢測,指標(biāo)檢測等。

檢測周期:7-15個工作日(參考周期)

納米薄膜檢測項(xiàng)目:厚度檢測,缺陷檢測,指標(biāo)檢測等。檢測周期短,費(fèi)用低,實(shí)驗(yàn)方案全,真正的一站式檢測服務(wù)。
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